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chroma 8020 配接器/充电器自动测试系统 主要特色:可支持同时一次测多颗待测物,大幅提升生产线产能兼具Chroma 6000系统的测试效能,与8000系统灵活的硬件架构针对配接器/充电器特性优化的标准测试项目,测试效能佳特别针对生产在线使用所需,软件功能操作简单弹性架构软件平台 - 测试程序编辑功能 - 测试报告格式编辑功能 - 测试报告产生器 - 统计分析报表编辑功能 - 用户权限设
chroma 8490 LCD 变流器自动测试系统 主要特色:可量测变流器和 LIPS 机种可选择标准与顶针气动治具所有输出同步量测,大幅降低测试时间,比传统测试快2-3倍,达到佳的成本效率比使用三种不同功能的PCI适配卡量测 :测量卡、控制卡、DMM卡,拥有的扩充性,如须量测更多组数时,增加PCI适配卡即可三种控制灯管亮度的方式:直流电压、脉波宽度调变、SM Bus控制内建时序测量功能提供参数
chroma 8491 LED电源自动测试系统 主要特色:专门使用于LED电源测试可支援同时一次测多颗待测物,大幅提升生产线产能针对LED电源特性提供适合的标准测试项目,藉以达到佳的测试效能开放性架构软体平台 - 支援相关硬体扩充 - 支援备配 GPIB/RS-232/RS-485/I2C 介面之仪器 - 测试项目编辑功能 - 测试程式编辑功能 - 测试报告编辑功能 - 统计分析报表编辑功能
chroma 8700 电池模组功能性自动测试系统 主要特色:针对电池特性优化的标准测试项目,测试效能佳特别针对生产线上使用所需,软体功能操作简单弹性架构软体平台 - 测试程序编辑功能 - 测试报告格式编辑功能 - 测试报告产生器 - 统计分析报表编辑功能 - 用户权限设定 - 发布控制 - 活动纪录 - 支援 Bar Code Reader因应业界测试需求可扩充硬体,BMS通讯介面与增加新测试
advantest TAS7400 成像系统 Low-cost, multi-purpose terahertz spectroscopic system to meet diverse applicationsKey FeaturesThe TAS7400 product line offers a series of low-cost, all-purpose spectroscopic
advantest TAS7000 成像系统 3D Imaging Analysis Systemimg_tas7000_0001TAS7000 3D Imaging Analysis SystemThe TAS7000(?1) 3D(?2) imaging analysis system exploits the unique properties of terahertz waves(?3).
advantest M4742A 集成电路测试系统 动态测试机械手img_m4742a_0001 更好的易用性与灵活性由于半导体产业的持续增长和日益复杂化,半导体产品不断向不同的*的应用域渗透,包括个人电脑、数码设备、移动设备和车载产品等。为了满足终端用户们多种多样的要求,使他们的产品从竞争中脱颖而出,元器件制造商们不断的追赶着新的技术潮流,如今每年都会诞生超过100种新的IC型式。为了终成功赢