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  • 58173-FC销售chroma 58173-FC LED自动测试系统
    chroma 58173-FC LED自动测试系统

    chroma 58173-FC LED自动测试系统,主要特色:提供*电性测试 (200V/2A) ,可满足HV及HP测试Chroma大面积光侦测器(量测角度可达148度)半自动精密LED wafer/chip点测设备特殊无钻孔真空平台设计特制Edge Sensor具有点测针压稳定

    更新时间:2024-10-26访问量:893
  • 58154销售chroma 58154 ESD 测试系统
    chroma 58154 ESD 测试系统

    chroma 58154 ESD 测试系统,主要特色:提供两种ESD 测试标准 : Human body model and Machine model用户自定项目: Interval, cycle and polarity are programmable高分辨率 : 5V per-step for Machine model

    更新时间:2024-10-26访问量:1335
  • 58182销售chroma 58182 Top-view  测试系统
    chroma 58182 Top-view 测试系统

    chroma 58182 Top-view 测试系统,主要特色:可量测白光或 RGB LED Top-view Light Bar 之光均匀性搭载自动影像辨识功能杰出之光学量测表现成功筛检 ESD 损伤之 LED Light bar可接取 FPC/PCB Light Bar 之平台

    更新时间:2024-10-26访问量:1041
  • 58183销售chroma 58183 LED Light Bar 电性测试系统
    chroma 58183 LED Light Bar 电性测试系统

    chroma 58183 LED Light Bar 电性测试系统,主要特色:微电流供应与量测PC设计之架构支持多任务量测,使用者可一次设定多组测试项目进行量测多支持4组外加控制盒使用Chroma通用L/B接线治具,可更广泛接取各种LED灯条进行测试软件具权限设定与管理之功能

    更新时间:2024-10-26访问量:1153
  • 致茂7935chroma 7935 晶圆检测系统
    chroma 7935 晶圆检测系统

    chroma 7935 晶圆检测系统 主要特色:大可检测8“ 晶圆 (检测区域达10“ 范围 )可因应不同产业的晶粒更换或新增检测项目上片后晶圆对位机制自动寻边功能可适用于不同形状之晶圆瑕疵规格编辑器可让使用者自行编辑检测规格影像辨识成功率高达 98%可结合上游测试机晶粒资料,合并后上传至下一道制程设备提供检测报表编辑器,使用者可自行选择适用资料并进行分析适合LED、雷射二极体及影像感测器等产

    更新时间:2024-10-26访问量:828
  • IS-SA销售chroma IS-SA 材料散射测量系统
    chroma IS-SA 材料散射测量系统

    chroma IS-SA 材料散射测量系统,主要特色:一次量測可快速取得所有角度的資料全面及自動化的控制照明光源的角度廣泛的光源和樣品控制配置選項易於使用的控制和分析軟件數據可以導出在光學設計和模擬工具軟件

    更新时间:2024-10-26访问量:1699
  • VisionCAL销售chroma VisionCAL LED显示屏校正系统
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    chroma VisionCAL LED显示屏校正系统,主要特色:Complete measurement system for LED video panel correctionProMetric Imaging Colorimeter measures the brightness and color of all LEDs in the screenVision

    更新时间:2024-10-26访问量:904
  • 致茂8200chroma 8200 开关电源自动测试系统
    chroma 8200 开关电源自动测试系统

    chroma 8200 开关电源自动测试系统 主要特色:测试程式编辑功能测试报告编辑功能使用者权限设定测试项目/程式控管功能人员进出系统纪录广泛的模组化硬体以提供高准确及重覆量测经由系统预设测试项目,可提高测试生产率佳成本效益比图形介面Windows 98/NT/2000以上的作业环境

    更新时间:2024-10-26访问量:926
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