美佳特科技
MEIJIATE TECHNOLOGY售前售中售后完整的服务体系
诚信经营质量保障价格合理服务贴心详细介绍
| 品牌 | KEYSIGHT/美国是德 | 价格区间 | 1万-5万 |
|---|---|---|---|
| 组件类别 | 光学元件 | 应用领域 | 电子/电池,电气 |
| 波长范围 | 1000-1600?nm |
属于 81250 ParBERT 并行误码测试平台前端插件,必须搭载 E4861B VXI 载体模块工作;单块载体可同时搭载两片前端模块。
数据速率覆盖 21Mb/s~3.35Gb/s,支持差分、单端两种信号输出形式,适配 LVDS 等高速串行器件接口。
输出幅度 0.1~1.8Vpp 连续可调;20%-80% 上升沿典型 60ps,固有抖动典型值<30ps pp,信号完整性优良。
码型资源丰富,支持最长 2³¹‑1 PRBS 序列、PRWS 伪随机字序列;每通道 16Mbit 深度内存,可加载用户自定义码流。支持通过延迟链路实现抖动注入。
多通道同步扩展,多块 E4862B 模块可精确同步触发,最多构建 64 通道并行测试系统;遵循 VXI 总线协议,兼容自动化测试程控。原厂现已停产,广泛应用于存量测试平台改造。
速率范围:21 Mb/s ~ 3.35 Gb/s
输出方式:差分 / 单端,50Ω 阻抗匹配
输出幅度:0.1 Vpp ~ 1.8 Vpp
上升时间 (20%-80%):典型 60 ps
固有抖动:<30 ps pp(典型)
码型存储:单通道 16 Mbit
适配载体:E4861B VXI 模块;主机平台:81250 ParBERT
接口形式:同轴射频输出接口;供电与通讯依托 VXI 背板
环境条件:工作温度 0~50℃,高精度测量建议预热 30 分钟
高速串行芯片测试:PCIe、SATA、XAUI、千兆以太网 SerDes 收发器电气激励与误码验证;
通信集成电路研发:复用 / 解复用器、背板互连、高速信号调理芯片信号完整性测试;
并行多通道测试系统:多 lane 器件同步施加激励,对比多路通道传输性能;
实验室信号完整性研究:施加 PRBS 数据流,配合示波器观测眼图、抖动特性;
老旧产线设备维护:原有 81250 测试平台备件替换,延续现有自动化测试程序。
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