Keithley 2602B 双通道数字源表（SMU）

一、核心产品亮点

• 双通道集成设计，空间效能双优：半机架规格整合精密电源、电流源、数字万用表、脉冲发生器及电子负载多合一功能，双独立通道（CH A&CH B）可单独/同步工作，相较于单通道同类设备，在相同空间内实现双倍测试能力，支持台式与机架安装，大幅降低设备部署与采购成本。

• 高精度宽量程，速率性能拉满：搭载6.5位高精度测量体系，实现100fA电流分辨率与100nV电压分辨率，支持3A直流、10A脉冲输出及40V宽电压范围，配合≤100μs窄脉冲测量能力，精度与响应速度远超普通源表，兼顾科研级精准度与量产测试效率。

• TSP专属技术，扩展同步无短板：内置TSP®测试脚本处理器，支持Lua嵌入式编程，可脱离PC独立运行复杂测试流程，比传统通信技术快200%；通过TSP-Link®接口实现多设备并行同步，无需主机即可扩展测试通道，相较于依赖PC控制的同类产品，系统吞吐量显著提升。

• 全场景兼容，操作集成更便捷：涵盖电压、电流、电阻等全维度测量功能，内置Java-based即插即用I/V分析软件，兼容GPIB、USB 2.0、LAN多接口及LabVIEW、Python等开发工具，支持2400系列源表指令仿真，遗留测试代码可无缝移植，适配自动化测试系统快速集成。

二、核心应用场景

• 电子元器件量产测试：双通道并行测试能力适配二极管、晶体管等元器件批量检测，TSP技术消除PC总线通信延迟，大幅提升生产线测试吞吐量，宽量程覆盖高低电流器件测试需求。

• 半导体与纳米器件研发：100fA超低电流分辨率、低噪声特性，搭配窄脉冲测量功能，精准捕捉半导体、纳米材料的电学特性，满足科研级器件参数分析与特性表征需求，区别于普通工业级源表。

• 功率器件性能验证：3A直流/10A脉冲输出与40V电压范围，可精准测试大电流器件、功率组件的负载特性与稳定性，为器件可靠性评估提供高精度数据支撑。

• 自动化测试系统（ATE）集成：多接口与TSP-Link扩展能力，可作为核心测量单元无缝融入3D感测、无线设备等终端产品的ATE平台，实现多设备协同测试，降低系统集成复杂度。

• 材料科学特性分析：宽动态范围与高精度测量能力，适配金属、高分子等材料的电学性能测试，支持复杂测试流程自动化执行，助力材料研发与性能验证高效推进。