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| 品牌 | Keithley/美国吉时利 | 产地类别 | 进口 |
|---|---|---|---|
| 应用领域 | 综合 |
多功能集成:单台仪器融合精密电压源、电流源、数字多用表、任意波形发生器、脉冲发生器、电子负载及触发控制器七大功能,B型号具备四象限源测量能力,简化测试系统搭建。
便捷操作体验:搭载嵌入式TSP® Express软件工具,无需编程或安装额外软件,B型号内置Java-based测试软件,支持浏览器即插即用,进一步降低操作门槛。
高速精准测试:具备20,000读数/秒的采集速度,信道同步精度低于500ns,B型号升级至6位半分辨率,0.1fA测量精度,可精准捕捉低电流器件瞬态行为。
灵活扩展兼容:支持代码后向兼容2600系列仪器,B型号新增2400系列软件指令仿真;通过TSP-Link®总线可扩展至32台设备/64个通道,适配多通道并行测试需求。
远程控制能力:符合LXI Class C标准,标配USB、GPIB、LAN接口,B型号升级USB2.0,支持高速数据传输、远程测试监控与故障排查,适配自动化测试场景。
通道数量:2个独立通道,支持单通道操作与双通道同步控制
测量范围:电压100nV-200V,电流0.1fA-1.5A(直流)、10A(脉冲),宽动态范围适配低电流器件测试需求。
输出功率:整机输出功率60W,单通道30W,满足多数器件测试功率需求。
采集速率:最高20,000读数/秒,支持快速瞬态信号捕捉
同步精度:信道同步误差小于500ns,保障多通道协同测试精度
通信接口:USB、GPIB、LAN,支持TSP-Link®总线扩展,兼容LXI Class C标准
物理参数:机身设计紧凑,适配桌面与系统集成安装,配备低噪声三同轴电缆及配套连接器。
质保期限:提供1年原厂质保服务
半导体领域:适用于二极管、晶体管、MOSFET等半导体器件的静态与动态I-V特性测试,可精准分析阈值电压、跨导等参数,助力器件研发与生产筛选。
光电器件测试:可对LED、激光二极管、光电二极管、太阳能电池等光电器件进行电学性能表征,精准捕捉器件响应特性。
材料研究领域:适配纳米材料、导电材料、半导体薄膜等的电学性能测试,0.1fA高精度可满足低电流场景下的科研测量需求。
电子制造行业:用于传感器、电池、集成电路(RFIC、ASIC、SOC)等元器件的生产测试与质量管控,提升测试效率与一致性。
科研与教学:作为电子工程、材料科学等学科的实验工具,支持复杂实验设计与数据分析,助力科研创新与教学实践。
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