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| 品牌 | Santec/日本 | 产地类别 | 进口 |
|---|---|---|---|
| 应用领域 | 电子/电池 |
Santec高精度可调谐激光光源TSL570
1. 品牌简介
宽波段精准覆盖：覆盖 1480-1640nm C+L 波段，无需频繁更换设备，即可满足光通信领域 DWDM 测试、光器件表征等多类测试场景需求，适配性强。
超高精度与稳定性：±1pm 波长精度确保波长输出无偏差，保障测试数据准确性；±0.01dB 功率稳定性，避免功率波动对测试结果造成干扰，适合长时间连续测试。
高速扫描提升效率：支持 100nm/s 高速扫描速度，相比普通设备大幅缩短单次测试时间，在批量生产测试或高效研发场景中，能有效减少整体测试周期，提升工作效率。
低损耗高抑制比：内置低偏振相关损耗（PDL<0.05dB）特性，减少偏振变化对测试结果的影响；高边模抑制比（SMSR>55dB），确保激光输出纯度，进一步保障测试数据的精准度。
模块化集成设计：采用模块化结构设计，可便捷集成至自动化测试系统，无需复杂改造，降低系统搭建难度，同时满足工业级可靠性与重复性要求，适配生产产线高强度使用需求。
完善服务支持：可获取 TSL570 手册、中文说明书，帮助用户快速熟悉设备操作流程；同时提供价格咨询服务，为用户采购决策提供清晰参考，后续使用中遇到技术问题也可获得专业支持。
DWDM 测试场景：在密集波分复用（DWDM）系统测试中，设备覆盖的 C+L 波段与 ±1pm 波长精度，可精准测试 DWDM 器件的信道插损、波长响应等关键参数，100nm/s 高速扫描能高效完成批量器件测试，保障 DWDM 系统传输质量。
光器件表征场景：用于光耦合器、光滤波器、光开关等光器件的性能表征，低偏振相关损耗（PDL<0.05dB）与高边模抑制比（SMSR>55dB）特性，可精准测量器件的偏振相关特性、波长响应等参数，为器件质量把控提供可靠依据。
硅光芯片验证场景：硅光芯片对激光光源的精度与稳定性要求较高，Santec TSL570 的 ±1pm 波长精度、±0.01dB 功率稳定性及低 PDL 特性，可满足硅光芯片研发与生产过程中的性能验证需求，助力硅光技术产业化推进。
实验室精密测试场景：科研实验室开展光通信相关研究时，需要高精度、高稳定的激光光源作为测试基础，Santec TSL570 可作为核心测试设备，支持各类精密光学实验，为科研数据的可靠性提供保障，助力科研项目顺利推进。
生产产线质检场景：在光通信设备、光器件的生产产线中，该设备可作为质检工具，对出厂产品进行性能抽检或全检，高速扫描功能提升质检效率，高精度与高稳定性确保质检结果可靠，帮助企业严格把控产品出厂质量，减少不良品流出。
自动化测试系统集成场景：其模块化设计可轻松集成至自动化测试系统，适配工业级生产与研发需求，无需额外定制改造，即可实现测试流程自动化，减少人工操作误差，提升整体测试效率与一致性。
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