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DSA8300/DSA8200 泰克 数字采样示波器

简要描述:DSA8300/DSA8200 泰克 数字采样示波器 是面向高速通信与串行数据领域的数字采样示波器,电接口带宽超 70GHz、光接口带宽超 80GHz,支持 16 位垂直分辨率与超低时基抖动(多通道典型 425fs,相位参考模式下 < 100fs)。设备采用 6 插槽模块化架构,可灵活配置电 / 光采集、时钟恢复与相位参考模块,单台最多支持 8 通道同步采集。

  • 产品型号:Tektronix 泰克
  • 厂商性质:经销商
  • 更新时间:2026-03-23
  • 访  问  量:3437

详细介绍

品牌其他品牌产地类别进口
应用领域医疗卫生,化工,生物产业,电子/电池

DSA8300/DSA8200 泰克 数字采样示波器

1. 品牌介绍

泰克(Tektronix)是全球电子测试测量领域的企业,提供示波器、信号源、频谱分析仪等测试设备与解决方案,产品覆盖通信、半导体、计算机、消费电子等行业。DSA8300 系列是泰克面向超高速信号测试的旗舰采样示波器,以高带宽、低抖动、模块化设计,为高速通信与数字电路研发提供测试支撑。


2. 产品特点

  • 超宽频带采集:电接口带宽 > 70GHz,光接口带宽 > 80GHz,覆盖主流高速电 / 光信号测试需求。

  • 超低抖动性能:8 通道同步采集时基抖动典型值 425fs;搭配 82A04B 相位参考模块,6 通道抖动 < 100fs。

  • 高垂直分辨率:16 位模数转换器,电接口分辨率 < 20μV LSB(1V 全量程),光接口分辨率低至 < 20nW,精准捕捉微弱信号。

  • 模块化灵活架构:6 个模块插槽,支持电 / 光采集、时钟恢复、相位参考等模块混插,单台最多 8 通道同步采集。

  • 集成化测量能力:内置 TDR 测量(典型边沿 10ps)、S 参数分析、眼图 / 抖动 / BER/TDECQ/SNDR 分析,支持 120 + 自动测量与 80 + 标准模板测试。

  • 高速信号适配:支持 NRZ、RZ、PAM4 信号,覆盖 155Mb/s 至 400G 高速通信标准,适配光模块与高速电接口测试。

  • 高测试吞吐量:TDR 模式下每通道采样率最高 300kS/s,支持 IEEE-488、以太网编程接口,提升自动化测试效率。


3. 产品规格

  • 带宽:电接口 > 70GHz;光接口 > 80GHz

  • 垂直分辨率:16 位 ADC;电接口 < 20μV LSB(1V 量程);光接口 < 20nW~<0.6μW(依模块而定)

  • 时基抖动:8 通道同步采集典型 425fs;相位参考模式 6 通道 < 100fs

  • 通道数:单台主机最多 8 通道同步采集

  • 采样率:TDR 模式每通道最高 300kS/s;其他模式最高 200kS/s

  • 模块插槽:6 个,支持电 / 光采集、时钟恢复、相位参考等模块

  • 测量功能:TDR 阻抗 / 不连续性分析、S 参数、眼图、抖动、噪声、BER、TDECQ、SNDR、模板测试

  • 接口:前面板触发输入、IEEE-488、以太网、本地处理器接口


4. 应用场景

  • 高速光通信测试:100G/400G 光模块、收发器的眼图、TDECQ、SNDR 测试,及 155Mb/s~400G 光接口一致性验证。

  • 高速电信号完整性:PCIe、USB4、DDR、背板、高速 PCB、连接器的阻抗、串扰、传输时延与信号质量测试。

  • 半导体器件验证:高速 ASIC、FPGA、PHY 芯片的发射机信号质量、眼图、抖动与 PAM4 信号分析。

  • TDR 与 S 参数测量:高速传输线、射频器件、滤波器的阻抗、不连续性定位与 S 参数时域 / 频域分析。

  • 通信标准一致性:ITU、ANSI、IEEE、SONET/SDH 等高速通信标准的制造与一致性测试。


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