chroma 19301 绕线元件脉冲测试器

chroma 19301 绕线元件脉冲测试器

主要特色：高低感量测试应用(0.1uH~100uH)10V~1000V脉冲测试电压,0.25V测量解析度高速测量 120mS(Pulse 1.0,标准充电时间)具备电感测量接触检查功能具备电感差异电压补偿功能脉冲测试高取样率(200MHz),10bits崩溃电压分析功能低电压量测档位,提高波形分析灵敏度(32V/64V/128V/256V/512V/1024V)繁中/ 简中 / 英文操作介面USB波形储存与画面撷取功能图形化彩色显示标准LAN,USB,RS232介面

Chroma 19301为绕线元件脉冲测试器，结合了 高低感量测技术应用，拥有1000Vdc脉冲电压与 200MHz高速取样率，可提供0.1uH~100uH 大范围 感量产品测试满足绝大部份功率电感测试需求， 拥有波形面积比较、波形面积差比较、波形颤动 侦测(FLUTTER)及波形二阶微分侦测(LAPLACIAN) 等判定方法，可有效检测线圈自体绝缘不良。绕线元件于生产检测包含电气特性、电气安规 耐压进行测试，而线圈之自体绝缘不良通常是 造成线圈于使用环境中发生层间短路、出脚短路 之根源。其形成原因可能源于初始设计不良、 molding加工制程不良，或绝缘材料之劣化等所 引起，故加入线圈层间短路测试有其必要性Chroma 19301为针对绕线元件测试需求所设计， 利用一高压充电之微小电容(测试能量低)与待测 线圈形成RLC并联谐振，由振荡之衰减波形，透 过高速且精密的取样处理分析技术，可检验出线 圈自体之绝缘不良，提供功率电感元件进行绕线 品质及磁芯之耐压测试，让元件生产厂商及使用 者能更有效的为产品品质把关。Chroma 19301应用于低感量绕线元件测试，小 感量可达0.1uH，针对低感量测试特性提供四线 式测量、接触检查功能、电感检查与电压补偿功 能，可避免因待测物感量变化大或配线等效电感 而造成测试电压误差大，为低感量绕线元件脉冲 测试佳利器。Chroma 19301于自动化生产上应用，拥有超高速 测量速度有效缩短测试时间提升生产效率，且电 压补偿功能改善了自动化机台配线等效电感之影 响。全新的人机操作介面，整合图形化彩色显示并提 供画面撷取功能，透过前面板USB储存波形，不 仅适用于生产现场，更可应用于研发、品保单位 使用进行样品分析比对，大幅提升操作便利性。

量测技术脉冲测试概论与原理所谓的『绕线元件脉冲测试』基本上是以一『非破坏性』、高速、低能量之电压脉冲施加在待测物上，以一脉冲电压加于并联线圈的振荡电容(Cs)上，使 并联电容与线圈产生LCR振荡，观察振荡衰减情况来了解线圈内部状态，包含线圈自体之绝缘、线圈感量及并联电容量(Cw)等状态(如图1: 测试等效电路图 ) ，再藉由分析／比对待测物良品与不良品之等效波形以达到判定良否之目的。绕线元件脉冲测试主要功能乃在早期发现绕线元件中各种潜在之缺陷，例 如：绕线层间短路、电极焊接不良、内部线圈或磁芯绝缘不良等。Chroma Model 19301绕线元件脉冲测试器-测试等效电路图波形判定模式 波形面积比较 (AREA SIZE) 将样本和待测物彼此之面积大小进行比对，面 积大小与待测物线圈绝缘有关，线圈绝缘不良 造成波形快速衰减。波形面积差比较 (DIFFERENTIAL AREA) 对任意之区域求出样本和待测物差异部分 之面积与判定条件进行比对，与待测物感量变 化有关联，感量差异造成后段线圈自体震荡频 率改变使波形面积差异。波形颤动侦测 (FLUTTER DETECTION) 以微分演算求出波形上产生之总放电量在与样本之波形总放电量做比对。 放电量二次微分侦测 (LAPLACIAN VALUE) 以二阶微分演算后，与样本之读值做比对，可 有效检测出因电气放电或电极焊接不良引起波 形快速变化现象。低感量脉冲测试技术Chroma 19301 为针对低感量绕线元件待测物而开发，小感量可从0.1uH~100uH产品进行层间短路测试，低感量待测物有别于一般感量产品测试应用， 因待测物感量较低相对于容易受到测试回路上配线等效电感之影响，使得测试电压产生分压于配线上使待测物端电压会远低于量测时的设定电压，另外如 低感量Power choke其工作电压应用于较低电压，因此其脉冲测试电压通常会低于一般感量产品。低电压档位 低感量产品如智慧型手机中的Power choke，其工作电压较低且体积较小，可测试电压相对较低，因此用于量测低感量之脉冲测试设备需具备较低电压档 位来进行波形分析，Chroma 19301具有六个电压档位分别为32V,64V,128V,256V,512V及1024V与低0.25V电压辨识度，小测试电压可从10V开始进行测 试，可有效提高波形判定辨识能力。Chroma Model 19301绕线元件脉冲测试器-低感量脉冲测试技术四端测量 一般两线式层间短路测试设备因电压侦测在电流回圈内部，在 低感量待测物，测得电压与实际待测物上有很大差距，Chroma 19301采用双同轴线四线侦测方式，大幅提高电压精度，达到正确 测试效果。崩溃电压分析 Breakdown Voltage ( B.D.V) Chroma 19301 具有崩溃电压测试功能，设定起始电压与结束电压 及电压爬升率，利用电压爬升过程侦测波形面积比(Area)与二阶微 分侦测(Laplacian)判定是否超过设定值，测试出线圈可承受电压强 度，藉由这些功能，研究人员可以对产品进行分析与研究，针对 线圈较弱的地方做改善。接触检查功能 ( ) Chroma 19301 于测试前会进行接触检查，避免因为接触不良或开 路使得内部以大电压输出造成治具端探针接线因高压而跳火， 导致待测物受到损坏。并可延长探针使用寿命。Chroma Model 19301绕线元件脉冲测试器电压补偿功能 ( ) 一般如变压器等感量较大的线圈进行测试时 ，配线等效感量相对较小， 但在低感量测试时(如0.2uH)， 配线等效感量大小会影响待测物上之实际电压，尤 其在自动化测试应用时， 降低配线影响是一重要设计考量。过高的配线阻抗会使低感量测试时电压分压在测线上， 导致待测物上的电压低于设定值而无 法有效检出不良品。且电感产品感量规格高可达正负30%，因此于低感量测试应用时，会因待测物感量变化而造成实际端点上电压差异更加明显，导致 波形面积判定失效或测试电压未达要求之电压。Chroma 19301 具备电感差异电压补偿功能，改善上述问题及降低因感量差异造成于端点上实际电压的差 异，进而降低误判的可能性。Chroma Model 19301绕线元件脉冲测试器-电压补偿功能()高低感量产品测试 Chroma 19301 除了低感量产品测试技术外，也同时涵盖到较高感量产品测试应用，可从0.1uH ~ 100uH 。于测试初始进行样品取样时，透过内部电感量侦 测功能得知待测物感量大小，自动切换到合适档位进行测试(切换点可设定)，使待测物在适当波形下进行比对测量，对使用者操作来说是相当便利的一项 功能。单一台层间短路测试器即结合了高低感量产品测试应用，客户于生产线上进行产品更换时可省略设备更换时间，不仅缩短了产品换线工时同时也降 低工厂设备负担，有助于工厂端生产管理也替客户节省设备资本支出之成本。

产品应用高速自动化测试应用 低感量电感应用于智慧型手机或平板电脑等3C产品，产品外观尺寸趋向轻薄短小设计，电感于生产上也采用全自动化 测包机进行生产，其自动化机台产速相当高，因此产品生产应用需搭配高速测量设备才能满足生产条件。为了满足高 速自动化测试应用，Chroma 19301具有超高速测量功能及双同轴线四线测量方式降低配线长度之影响，可直接搭配层 测自动化机上应用，为客户自动化生产带来更大效益。SMD POWER CHOKE 测试治具 低感量Power Choke产品体积小，为了使层间短路测试操作上能更加便利，Chroma 开发之SMD Power Choke四端 测试治具() ，可搭配19301之电感差异自动电压补偿功能特点应用，为产品开发或品保人员带来更为方便进行测试 提高测试效率。19301 绕线元件脉冲测试器 A193001 SMD Choke 测试治具 A193002 1m测试线+测试夹 A193003 1m测试线+截平头 A193004 1m测试线 BNC to BNC(含BNC公头*2)

Agilent 83497A 光电时钟恢复模块

Agilent 8157A 光衰减仪

Agilent 81637B 快速功率计

Agilent 34570A 数字万用表

Agilent 44476A 微波复用器模块

Agilent 70004A 光谱分析仪

Agilent 81000FI 光纤连接器

Agilent 81002FF 积分球

Agilent 81521B 光功率计探头

Agilent 81524A 光功率探头

Agilent 81525A 大功率光学探头

Agilent 81533A 接口模块

Agilent 81533B 接口模块

Agilent 81536A 光功率计传感插件

Agilent 81560A 可变光衰减器

Agilent 81567A 可变光衰减器模块

Agilent 8156A 光衰减器

Agilent 81578A可变光衰减器模块

Agilent 81610A回损测试模块

Agilent 81619A 光功率模块

Agilent 81624A 光学探头

Agilent 81625A 光功率探头

Agilent 81633A 分布式反馈(DFB)激光器

Agilent 81635A 双光功率传感器

Agilent 8163A光功率计主机

Agilent 8163B 光功率计

Agilent 8164A 光波测量系统主机

Agilent 81650A 单法布里-珀罗激光源

Agilent 81651A 光源模块

Agilent 81654A 法布里-珀罗激光源

Agilent 81662A 分布式反馈(DFB)激光器

Agilent 8168E 可调谐激光源

Agilent 83440D光波转换器

Agilent 83480A 数字通信分析仪

Agilent 83483A 双通道电模块

Agilent 83486A 光电模块

Agilent 83487A 光电模块

Agilent 83492A 多模时钟模块

Agilent 83493A 单模时钟恢复模块

Agilent 83494A 单模时钟恢复模块

Agilent 83495A 时钟恢复模块

Agilent 83496A 光电时钟恢复模块

Agilent 86100A 光示波器

Agilent 86100C 宽带示波器主机

Agilent 86103A 光电模块

Agilent 86103B 光电模块

Agilent 86105A 光电模块

Agilent 86105B 光电模块

Agilent 86106B 光电模块

Agilent 86107A 精密时基参考模块

Agilent 86120B 多波长计

Agilent 86120C 多波长计

Agilent 86142B 高性能光谱分析仪

Agilent 86146b 光谱分析仪

Agilent N7740 多端口光功率计

Ando AQ2140光功率计

Ando AQ2730光功率计模块

Ando AQ2742 光功率传感器

Ando AQ2743 光功率传感器

Ando AQ4211LD组件

Ando AQ4215 光功率计

Andu AQ-4137 光源

Andu AQ-4142 光源

Anritsu 69347B 信号源

Anritsu MN9610B光衰减器

Anritsu ms9710c 光谱分析仪

Anritsu MS9740A 台式光谱分析仪

CVI Melles Griot 05-LHP-211-1 激光器

Ericsson FSU-975 光纤熔接机

Exfo IQS-3150 可变衰减器

EXFO WA-1650 光波长计

HP 8153A 光功率计

HP 8153B 光波万用表

HP 81551MM 点光源模块

HP 83540A 插件信号源

HP 8595E 频谱分析仪

IFR GPS-101定位系统模拟器

Jdsu HA9 光衰减器

JDSU OLP-55 光功率计

Keithley 7001半导体开关系统

Keithley 2001A 数字多用表

Keithley 2400 数字源表

Keithley 2400-C 数字源表

Keithley 2500 数字源表

Keithley 2502 数字源表

KEITHLEY 6221 电流源表

Keysight 11708A 衰减器垫

Keysight 3458A 数字多用表

Keysight 34903A GP开关模块

Keysight 81570A 可变光衰减器模块

Keysight 81618A 接口模块

Keysight 81623B 锗光功率探头

Keysight 81630B 大功率光传感器

Keysight 81634B 低偏振相关光功率传感器

Keysight 81636B 光功率传感器

Keysight 8164B 光波测量系统主机

Keysight 82357B GPIB 卡

Keysight 86100D 宽带宽示波器主机

Keysight 86105C 光电采样模块

Keysight 86105D 光电模块

Keysight E3631A 三路输出电源

Keysight J7231B 抖动通信性能分析仪

Keysight N5181A 射频模拟信号发生器

Keysight N5980A 比特误码率测试仪

Keysight N7744A 多端口光功率计

Keysight N7748A 高性能光功率计

Newport 818-IG高性能光电二极管传感器

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Newport 918-ir 高性能光电二极管传感器

NI PCI GPIB小卡

NI PXI-1031 板卡

Photom EP-712 光功率计

Picometrix PT-12B 光电转换芯片

R&S FSP3 频谱分析仪

R&S NRPZ51 射频功率计

R&S NRPZ55 射频功率计

R&S NRP-Z55 射频功率计

Tektronix DPP125B 误码仪

Tektronix 80C02 光采样模块

Tektronix 80E04 双通道时域反射计

Tektronix DSA8200 采样示波器

Tektronix DSA8300 数字采样示波器

USHIO UXM-Q256BY点光源

YOKOGAWA AQ2200-421 单槽型光开关

YOKOGAWA AQ2201 帧控制器主机

 光示波器/眼图仪—Agilent 86100A, Agilent 86100B, Agilent 86100C, Agilent 86100D,Agilent 86105A, Agilent 86105B, Agilent 86116C, Agilent 86105D, Agilent 86103A, Agilent 86106B, Agilent 86103B, Agilent 83493A, Agilent 83496A, Agilent 86118A, Agilent 54754A，Tektronix DSA 8300，Tektronix DSA 8200，Tektronix 80C08，Tektronix 80C15，Tektronix 80C07, Tektronix 82A04，Tektronix 80E04,Anritsu MP2100B光谱分析：Agilent 86142B, Agilent 86146B,Agilent 86140B,Anritsu MS9740A,Anritsu MS 9710C,Anritsu MS9710B,Yokogawa 6317B,Yokogawa:6370D波长计：Agilent 86122A,Agilent 86120B,Agilent 86120C,EXFO WA1600,EXFO WA1650,EXFO WA1100光衰减器：Agilent 8156A,Agilent 8157A，Agilent 81570A,Agilent 81571A,Agilent 81576A,Agilent 81577A，Agilent 81567A,JDSU HA-9光万用表:Agilent 8164A,Agilent 8164B,Agilent 8163A,Agilent 8163B,Agilent 8153A,Agilent 8166B,Agilent N7744A,Agilent N7745A,Agilent N7748A,Agilent 81632B,Agilent 81633A,Agilent 81634A,Agilent 81634B,Agilent 81635A,Agilent 81636B,Agilent 86137B,Agilent 81623A,Agilent 81623B,Agilent 81624A,Agilent 81624B,Agilent 81625A,Agilent 81625B,Agilent 81626B,Agilent 81628B,Agilent N7752A误码仪：Agilent N5980A,Agilent N4901A,Agilent N4903A,Agilent N4906A光开关：Agilent 81595B,Agilent 86062C,JDSU SB optical switch可调光源：Agilent 81640A,Agilent 81642A,Agilent 81680A，Agilent 81682A，Agilent 81600B网络分析仪：Agilent E5071C，Agilent 8722ES,Agilent 8720ES,Agilent E5061B,Agilent E5062A，R&S ZNB射频信号源：Agilent E4438C,Agilent 8257D，Agilent N5181A,Agilent N5182A,Aglent N5182B,Agient N5183A,Agilent 8257D，Agilent 8267D频谱分析仪：Agilent E4440A,Agilent N9010A，Agilent N9020A，Agilent N9030AWifi/蓝牙测试仪：Anritsu 8852B,LitePoint IQxel 80，,LitePoint IQXEL 160，,LitePoint 2011，,LitePoint IQ flex，Agilent N4010A