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TESEQ GTEM 500，隔板高度 250 mm符合 IEC/EN 61000-4-20 要求 符合EN 60118-13的理想测试设备 研发和预认证的理想选择
TESEQ GTEM 250，隔板高度 500 mm符合 IEC/EN 61000-4-20 要求 研发和预认证的理想选择 多种滤波器选择
TESEQ GTEM 1000，隔板高度 750 mm符合 IEC/EN 61000-4-20 要求 研发和预认证的理想选择 多种滤波器选择
TESEQ GTEM 750，隔板高度 1000 mm符合 IEC/EN 61000-4-20 要求 研发和预认证的理想选择 多种滤波器选择
TESEQ GTEM 1250，隔板高度 1250 mm符合 IEC/EN 61000-4-20 要求 研发和预认证的理想选择 多种滤波器选择
TESEQ GTEM 2000，隔板高度 2000 mm符合 IEC/EN 61000-4-20 标准研发和预认证的理想选择多种滤波器选项
TESEQ GTEM 1750，隔板高度 1750 mm符合 IEC/EN 61000-4-20 要求 研发和预认证的理想选择 多种滤波器选择
TESEQ GTEM 250A SAE，带有特殊开口的测试小室可以用大约45mm的隔板高度空间来测试集成电路符合 IEC/EN 61000-4-20, SAE J1752/3, IEC 62132-2 和 IEC 61967-2标准100 Watts 输入功率场地电压驻波比(VSWR) 可达到 18 GHz
