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chroma 3360-D VLSI 测试系统,主要特色:50 MHz 测试频率32/64 个 I/O 通道8M (标准) /16M (选购) Pattern 记忆体弹性化硬体结构平行测试 : 多 8 DUTsReal Parallel Trim/Match 功能时序频率测试单位
chroma 3650 SoC 测试系统,主要特色:50/100MHz测试工作频率512个 I/O 通道(I/O Channel)16M (32M Max.) Pattern 记忆体(Pattern Memory)Per-Pin 弹性资源架构32 DUTS 平行测试功能ADC/DAC
chroma 3772 光伏芯片化学、制程上下货系统 主要特色:破片率: 0.1%产量: 2400 pcs/hr上货载具:Cassette下货载具:Cassette
chroma 8900 电气产品自动测试系统,主要特色:开放式架构的测试软件硬件具可扩充性测试链接库可自由编辑测试程序可自由编辑测试项目可自由编辑统计报表使用者授权机制测试纪录支持条形码扫描
chroma 5104 高速 LED 灯管线上量测系统,主要特色:每日超过一万支灯管测试产能支援各类灯管之量测支援JEL801灯管场型量测支援闪频量测
chroma 58173-FC LED自动测试系统,主要特色:提供*电性测试 (200V/2A) ,可满足HV及HP测试Chroma大面积光侦测器(量测角度可达148度)半自动精密LED wafer/chip点测设备特殊无钻孔真空平台设计特制Edge Sensor具有点测针压稳定
chroma 58154 ESD 测试系统,主要特色:提供两种ESD 测试标准 : Human body model and Machine model用户自定项目: Interval, cycle and polarity are programmable高分辨率 : 5V per-step for Machine model
chroma 58182 Top-view 测试系统,主要特色:可量测白光或 RGB LED Top-view Light Bar 之光均匀性搭载自动影像辨识功能杰出之光学量测表现成功筛检 ESD 损伤之 LED Light bar可接取 FPC/PCB Light Bar 之平台