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chroma 3772 光伏芯片化学、制程上下货系统 主要特色:破片率: 0.1%产量: 2400 pcs/hr上货载具:Cassette下货载具:Cassette
chroma 8900 电气产品自动测试系统,主要特色:开放式架构的测试软件硬件具可扩充性测试链接库可自由编辑测试程序可自由编辑测试项目可自由编辑统计报表使用者授权机制测试纪录支持条形码扫描
chroma 5104 高速 LED 灯管线上量测系统,主要特色:每日超过一万支灯管测试产能支援各类灯管之量测支援JEL801灯管场型量测支援闪频量测
chroma 58173-FC LED自动测试系统,主要特色:提供*电性测试 (200V/2A) ,可满足HV及HP测试Chroma大面积光侦测器(量测角度可达148度)半自动精密LED wafer/chip点测设备特殊无钻孔真空平台设计特制Edge Sensor具有点测针压稳定
chroma 58154 ESD 测试系统,主要特色:提供两种ESD 测试标准 : Human body model and Machine model用户自定项目: Interval, cycle and polarity are programmable高分辨率 : 5V per-step for Machine model
chroma 58182 Top-view 测试系统,主要特色:可量测白光或 RGB LED Top-view Light Bar 之光均匀性搭载自动影像辨识功能杰出之光学量测表现成功筛检 ESD 损伤之 LED Light bar可接取 FPC/PCB Light Bar 之平台
chroma 58183 LED Light Bar 电性测试系统,主要特色:微电流供应与量测PC设计之架构支持多任务量测,使用者可一次设定多组测试项目进行量测多支持4组外加控制盒使用Chroma通用L/B接线治具,可更广泛接取各种LED灯条进行测试软件具权限设定与管理之功能
chroma 7935 晶圆检测系统 主要特色:大可检测8“ 晶圆 (检测区域达10“ 范围 )可因应不同产业的晶粒更换或新增检测项目上片后晶圆对位机制自动寻边功能可适用于不同形状之晶圆瑕疵规格编辑器可让使用者自行编辑检测规格影像辨识成功率高达 98%可结合上游测试机晶粒资料,合并后上传至下一道制程设备提供检测报表编辑器,使用者可自行选择适用资料并进行分析适合LED、雷射二极体及影像感测器等产