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详细介绍
| 品牌 | Agilent/安捷伦 | 价格区间 | 面议 |
|---|---|---|---|
| 产地类别 | 进口 | 应用领域 | 电子/电池 |
高速测量性能，最短 25μs 平均时间，17kHz 模拟带宽，支持快速扫谱与动态光信号采集。
内置大容量缓存，单次最多存储 100000 个测量样本，支持长时间功率数据记录、最大最小值捕捉。
极低偏振相关性，PDL＜±0.015dB，有效降低偏振带来的测量误差，保障器件 IL、光谱扫描精度。
InGaAs 探测元件，波长覆盖 1250~1640nm，适配单模、多模光纤，支持裸光纤与各类光纤接头转接。
模块化插件设计，直接插入 8163B、8164A 光波主机，可多模块同时安装实现多通道并行测量。
支持与可调谐激光模块触发同步，搭建高速光谱扫描测试系统，用于滤波器、波分器件检测。
测量指标可溯源 NIST 标准，功率测量线性度优异，满足实验室研发与产品出厂验收标准。
自带模拟输出接口，采集信号可外接示波器观测，适配动态光信号实时监测场景。
传感元件：InGaAs
波长范围：1250 nm ~ 1640 nm
光功率测量范围：-80 dBm ~ +10 dBm
最短平均时间：25 µs
模拟带宽：17 kHz
最大采样存储：100,000 个测量样本
偏振相关损耗：＜±0.015 dB
测量不确定度：±3%（1260~1630nm 参考条件）
兼容主机：8163B、8164A、8166B 等 816x 系列光波测量主机
适配光纤：单模、多模光纤（芯径最大 62.5μm，NA≤0.24）
接口：非接触光学输入，可搭配光纤转接适配器
测量功能：光功率测量、数据日志、功率稳定性监测、波长扫描测试
DWDM 无源器件高速光谱扫描：波分复用器、光滤波器、光栅、耦合器插入损耗与光谱响应测试。
光器件功率稳定性老化测试，长时间连续记录光功率波动，捕捉瞬态极值。
多通道并行光器件测试，多块 81636B 模块组合搭建多端口并行测量系统。
可调谐激光配套测试，与 81640A 可调谐光源同步触发，完成器件自动扫谱检测。
光纤链路、光隔离器、环形器等无源光学元件样品验证与出厂质检。
科研实验室光子器件动态光信号采集，搭配示波器做光信号波形监测。
Agilent 安捷伦 81636B 光功率传感器
Agilent 安捷伦 81636B 光功率传感器
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