在光谱的测量、各参考点通路信号光功率、各参考点光信噪比、光放大器各个波长的增益系数和增益平坦度的测试都可以使用光谱分析仪。
光谱分析仪的屏幕显示测量条件、标记值、其它数据以及测量波形。
1 光谱谱宽的测量
谱宽即光谱的带宽，使用光谱分析仪可以测量LD、发光二极管的谱宽。在光谱的谱宽测量时，要特别注意光谱分析仪系统分辨率的选择，即原理上光谱分析仪的分辨率应当小于被测信号谱宽的1/10.，一般推荐设置为至少小于被测信号谱宽的1/5。
在实际的测量中，为了能够准确测量数据，一般选择分辨率带宽为0.1nm以下。分辨率带宽RES位于SETUP菜单中的第一项，直接输入所要设定的分辨率带宽的大小即可，当选择的分辨率带宽不同时，从光谱分析仪观察到的光谱形状有很大的不同，并且所测量得到的谱宽大小的不同。
2 边模抑制比的测量
边模抑制比，SMSR表示峰值能级与横模能级之间的能级差值。
一般测量边模抑制比时，需要配合使用MARKER菜单和ANALYSIS菜单中相应的键。用MARKER菜单对主波峰值和最高的副波峰进行标识，读取两者的峰值功率值。边模抑制比为最高峰与次高峰之间的能级差。可以通过ANALYSIS菜单中相应的子选项计算得到最后的值。
3 增益的测量
在进行OA板或光放大器模块测试的时候，需要测试增益参数(Gain)。增益定义为输出信号功率 Pout 与输入信号功率 Pin 之比。
在进行增益的测量时，需要用到TRACE菜单中的相关选项。首先将Trace A设置为未接放大器之前的输入光，按下 Fix A；再将Trace B设置为经过光纤放大器之后的输出光，按下Fix B;取两者的峰值功率，即可计算出。
4 噪声系数的测量
光谱分析仪的一项重要功能是测量EDFA的等效噪声噪声系数(NF)，简称噪声系数。
目前所有的光谱分析仪一般都采用内插减源法、时域消光法、偏振消光法等光放大器噪声系数测量方法，不同的测量方法得到不同的噪声系数的测量精度。内插减源法采用了曲线拟合的算法。在信号的波长中插入ASE，并采用四点两次或者更精确的曲线拟合法来计算噪声的大小。
5 系统OSNR的测量
在DWDM系统中，光信噪比(OSNR)能够比较准确地反映信号质量，成为常用的性能指标。
使用光谱分析仪测量OSNR常用的方法是积分法。通常采用光谱分析仪所能提供的最小分辨率带宽(RBW)扫描待测光谱，用积分的方法计算中心频率左右Br范围内的功率为信号功率，信道中间Bm范围内的功率为噪声功率，两者相比得到OSNR。信号光功率的积分范围一般取0.4 nm的带宽范围；噪声功率的积分范围要取0.4 nm和0.1 nm的带宽范围内的功率。一般用0.4nm带宽范围内的信号光功率减去0.4nm带宽范围内的噪声光功率，再用其差值除以0.1nm带宽范围内的噪声光功率，之后再取10倍的对数值，可计算出OSNR的大小。
