tektronix 80E04 电接口取样模块 技术方案

tektronix 80E04 电接口取样模块 技术方案​

20GHz 2Ch TDR module for CSA8000

80E04模块主要特点和优点

高达70 GHz的带宽和5 ps的上升时间 (10 - 90%)

低的分析噪声 –60 GHz时 450 μVRMS , 30 GHz时 300 μVRMS

远程取样器 *1把采样头放到DUT附近，保证的信号保真度

独立的取样器偏移校正功能，保证简便地反嵌夹具和探头

双通道

高精度微波连接器 (3.5 mm, 2.92 mm, 2.4 mm和1.85 mm)

探头支持

TDR 模块

15 ps反射真正差分全内置TDR上升时间 (12 ps入射)，阻抗分辨率小于1 mm

高达50 GHz的、准确、简便易用、经济的S参数测量 

应用

串行数据应用阻抗检定和S参数测量

抖动、噪声和BER分析

通道和眼图仿真和基于测量的Spice模型

高性能TDR/T测量

阻抗特征, 电感, 电容和S参数测量

传输线质量, 阻抗和串扰

真正差分, 共模和单端测量

隔离故障 

电接口取样模块

80E10 ? 80E09 ? 80E08 ? 80E07 ? 80E06 ? 80E06X2 ? 80E04 ? 80E03 ? 80E01

主要特点和优点

所有模块

高达70 GHz的带宽和5 ps的上升时间 (10 - 90%)

低的分析噪声 –60 GHz时 450 μVRMS , 30 GHz时 300 μVRMS

远程取样器 *1把采样头放到DUT附近，保证的信号保真度

独立的取样器偏移校正功能，保证简便地反嵌夹具和探头

双通道 (80E01和80E06除外)

高精度微波连接器 (3.5 mm, 2.92 mm, 2.4 mm和1.85 mm)

探头支持 (80E06除外)

TDR 模块

15 ps反射真正差分全内置TDR上升时间 (12 ps入射)，阻抗分辨率小于1 mm

高达50 GHz的、准确、简便易用、经济的S参数测量

应用

串行数据应用阻抗检定和S参数测量

抖动、噪声和BER分析

通道和眼图仿真和基于测量的Spice模型

80E10, 80E08 和 80E04

高性能TDR/T测量

阻抗特征, 电感, 电容和S参数测量

传输线质量, 阻抗和串扰

真正差分, 共模和单端测量

隔离故障

80E09, 80E07, 80E06, 80E01

高频, 低噪声信号采集

快速上升时间测量

抖动分析和波形分析

80E03 和 80E02

器件检定, 传输质量, 波形参数

小信号测量

*1集成在80E07 – 80E10上，80E01 – 80E04和80E06上选装。

TDR 模块: 80E10, 80E08 和 80E04

80E10、80E08和80E04是双通道时域反射计 (TDR)取样模块，在80E10中提供了高达12 ps的入射上升时间和15 ps的反射上升时间 (在80E08中提供了18 ps的入射上升时间，在80E04中提供了23 ps的入射上升时间)。这些模块的每条通道都能够生成一个用于TDR模式的快速阶跃信号；取样模块的采集部分监测入射阶跃和任何反射的能量。可以独立选择每条通道的阶跃极性。除独立测试隔离线路外，它还可以对两条耦合线路执行差分或共模TDR或S参数测试。每条通道独立阶跃生成功能可以实现真正差分测量，保证了差分器件的测量准确性。

80E10和80E08是全面集成的独立式小型2米远程取样器系统，可以把采样头放在DUT附近，保证的信号保真度。泰克为80E04提供了选装的2米扩展器。这些模块使用TDR阶跃驱动一条线路(或在测量差分串扰时驱动线路对)，同时使用另一条通道监测第二条线路(或在测量差分串扰时使用另一个模块)，检定串扰。8200和8000系列主机上的“滤波器”功能可以与TDR或串扰测量一起使用，以较低的边沿速率检定预计的系统性能。

所有模块拥有独立的入射阶跃和接收机偏移校正功能，消除了测量夹具和探头的影响，可以更快、更简便地反嵌测试夹具。80E10 取样模块提供了7 ps的采集上升时间及高达50 GHz的用户可选同等带宽 (50, 40和30 GHz设置)。80E08的取样带宽是30 GHz (用户可以选择30和20 GHz设置)，80E04的取样带宽是20 GHz。20 GHz P8018单端探头和18 GHz P80318 差分可变间距TDR探头提供了杰出的性能和一致性测试功能，保证简便准确地测量背板和封装器件。 

在用户结合使用这些模块及泰克IConnect? TDR和VNA软件时，可以采集高达1,000,000的数据点，获得高达50 GHz的差分、混合模式和单端S参数测量结果。IConnect还可以进行各种串行数据标准要求的阻抗、S参数和眼图一致性测试，及为千兆位互连进行全通道分析、Touchstone (SnP)文件输出和SPICE建模